安彤

职称职务:博士/副教授

E-mail:antong@bjut.edu.cn

通讯地址:北京工业大学机电学院,邮编:100124

基本信息

安彤,1983年生于北京,北京工业大学机械工程与应用电子技术学院力学系,博士/副教授

教育与工作经历

  • 2002年9月—2006年7月,北京工业大学机械工程与应用电子技术学院,安全工程专业,工学学士。

  • 2006年9月—2009年7月,北京工业大学机械工程与应用电子技术学院,固体力学专业,工学硕士。

  • 2010年9月—2014年7月,北京工业大学机械工程与应用电子技术学院,工程力学,工学博士。

  • 2014年6月—2018年6月,北京工业大学机械工程与应用电子技术学院力学系,讲师。

  • 2018年6月—今,北京工业大学机械工程与应用电子技术学院力学系,副教授。

研究方向

  • 学科领域:力学(固体力学,工程力学),电子科学与技术(器件封装技术与可靠性)。

  • 研究方向:先进制造中的力学问题;先进电子封装技术与可靠性。

承担科研项目

  • 国家自然科学基金面上项目“复杂工况下汽车级IGBT模块失效机理与寿命评估方法研究”(11872078),2019.01-2022.12。

  • 国家自然科学基金青年科学基金项目“功率半导体器件IGBT中Al金属化层损伤机理与疲劳寿命模型研究”(11502006),2016.01-2018.12。

  • 北京市自然科学基金面上项目“热、振及热振耦合条件下塑封球栅阵列封装(PBGA)焊点失效机理与疲劳寿命模型研究”(2182011),2018.01-2020.12。

  • 国家重点研发计划“增程式燃料电池轿车动力系统平台及整车集成技术”,课题一“面向产业化的增程式燃料电池轿车集成关键技术研究”任务“复杂工况下整车关键系统的结构安全分析”(2018YFB0105400),2018.06-2021.6。

  • 中国航空综合技术研究所合作项目“电子封装互连可靠性测试与寿命模型研究”,2014.01-2016.12。

  • 工业和信息化部电子第五研究所“倒装焊封装中关键结构失效分析与可靠性评价方法”,2018.10.1-2019.10.1。

  • 中国博士后科学基金面上项目“三维电子封装关键结构TSV-Cu胀出行为研究”(2015M570018),2015.06-2016.05。

  • 朝阳区博士后科研资助项目“热振耦合条件下塑封球栅阵列封装疲劳可靠性分析方法研究”(2014ZZ-06),2014.11-2015.11。

代表性研究成果

截至2019年3月,在力学、微电子封装技术类权威期刊发表期刊论文20余篇,国际会议论文30余篇。出版译著2部。已申请或授权专利、软件著作权10余项。

  • 出版译著:

  1. 秦飞,安彤,朱文辉,曹立强译.可靠性物理与工程.北京:科学出版社, 2013年11月第1版.书号:ISBN97870388247. (32万字)

  2. 秦飞,别晓锐,安彤译.先进倒装芯片封装技术.北京:化学工业出版社, 2017年2月第1版.书号: ISBN9787122276834. (62.8万字)

  • 代表性SCI期刊论文:

  1. Zhao Jingyi,AnTong*, Fang Chao, Bie Xiaorui, Qin Fei*, Chen Pei, Dai Yanwei. Astudy on the effect of microstructure evolution of the aluminum metallizationlayer on its electrical performance during power cycling.IEEE Transaction on Power Electronics, 2019, DOI:10.1109/TPEL.2019.2895695(Top期刊,影响因子6.812)

  2. An Tong*, Qin Fei, Chen Si, ChenPei. The effect of the diffusion creep behavior on the TSV-Cu protrusionmorphology during annealing.Journal ofMaterials Science: Materials in Electronics, 2018, 29(19): 16305-16316.

  3. An Tong*,Fang Chao,Qin Fei,Li Huaicheng, TangTao, Chen Pei. Failure study of Sn37Pb PBGA solder joints using temperaturecycling, random vibration and combined temperature cycling and random vibrationtests.Microelectronics Reliability,2018,91: 213-226.

  4. AnTong*, Qin Fei. Relationship between the intermetalliccompounds growth and the microcracking behavior of lead-free solder joints.Transactions of the ASME, Journal ofElectronic Packaging, 2016, 138: 011002 (10 pages).

  5. Chen Si,An Tong*,Qin Fei, Chen Pei. Microstructure evolution and protrusion of electroplated Cufilled in through silicon vias subjected to thermal cyclic loading.Journal of Electronic Materials, 2017, 46(10):5916-5932.(被评为美国TMS协会FMD/JEM 2017年度最佳论文)

  6. An Tong, Qin Fei*. Intergranularcracking simulation of the intermetallic compound layer in solder joints.Computational Materials Science, 2013,79: 1-14.

  7. An Tong, Qin Fei*. Effects of theintermetallic compound microstructure on the tensile behavior ofSn3.0Ag0.5Cu/Cu solder joint under various strain rates.Microelectronics Reliability, 2014, 54(5): 932-938.

  8. An Tong, Qin Fei*, Xia Guofeng.Analytical solutions and a numerical approach for diffusion-induced stresses inintermetallic compound layers of solder joints.Transactions of the ASME, Journal of Electronic Packaging, 2014,136: 011001 (8 pages).

  9. An Tong, Qin Fei*, Li Jiangang.Mechanical behavior of solder joints under dynamic four-point impact bending.Microelectronics Reliability, 2011,51(5): 1011-1019.

  10. An Tong, Qin Fei*. Cracking of theintermetallic compound layer in solder joints under drop impact loading.Transactions of the ASME, Journal ofElectronic Packaging, 2011, 133(3): 031004 (7 pages).

  11. Qin Fei*,An Tong, Chen Na. Strain rate effects and rate-dependentconstitutive models of lead-based and lead-free solders.Transactions of the ASME, Journal of Applied Mechanics, 2010,77(1): 011008 (11 pages).

  12. Qin Fei*,An Tong, Chen Na, Bai Jie. Tensile behaviors oflead-containing and lead-free solders at high strain rates.Transactions of the ASME, Journal ofElectronic Packaging. 2009, 131(3): 031001 (6 pages).

  • 代表性EI期刊论文:

  1. 安彤,秦飞.焊锡接点金属间化合物晶间裂纹的内聚力模拟.力学学报, 2013, 45(6): 936-947.

  2. 秦飞,安彤.焊锡材料的应变率效应及其材料模型.力学学报, 2010, 42(3): 439-447.

  3. 安彤,秦飞,武伟,于大全,万里兮,王珺. TSV转接板硅通孔的热应力分析.工程力学, 2013, 30(7): 262-269.

  4. 安彤,秦飞,王晓亮.应变率对无铅焊锡接点力学行为的影响.焊接学报, 2013, 34(10): 59-62.

  5. 秦飞,安彤,仲伟旭,刘程艳.无铅焊点金属间化合物的纳米压痕力学性能.焊接学报, 2013, 34(1): 25-28.

  6. 秦飞,安彤,夏国峰.焊锡接点IMC层的扩散应力.固体力学学报, 2012, 33(2): 162-167.

  7. 安彤,秦飞.跌落冲击载荷下焊锡接点金属间化合物层的动态开裂.固体力学学报, 2013, 34(2): 117-124.


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