柯小行  

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柯小行,副教授,博士生导师。北京工业大学青年百人(2015年),北京市科技新星(2016年)。1983年出生,2010年6月获比利时安特卫普大学(University of Antwerp)物理学博士学位。2010年7月至2014年10月在比利时安特卫普大学物理系电镜中心从事博士后研究。2014年11月,进入北京工业大学固体微结构与性能研究所工作,2015年4月评为硕士生导师。

到目前,共计发表学术论文近80篇,其中在Nature Communications, Nature Photonics, Small, Advanced Functional Materials, ACS Nano等国际重要影响的SCI学术期刊,以及Ultramicroscopy, Microscopy and Microanalysis等电子显微学专业期刊发表学术论文,目前被引次数1000余次,H因子25。受邀发表综述文章,并作国际学术研讨会邀请报告多次。在研(负责人)国家自然科学基金、北京市教委、北京市科委等科研项目4项。

研究方向:

1.  超高分辨透射电子显微学(球差校正透射电子显微镜的应用和发展)

2.  纳米材料的三维电子重构(3Delectron tomography)

3.  氧化物异质结界面物理化学

4.  对电子束敏感的纳米材料的超低电压TEM表征

5.  聚焦离子束(FIB)的应用研究

获得荣誉:

1.  2011年度优秀博士论文奖(材料类唯一,比利时显微研究学会颁发)

2.  2015年北京工业大学首批“青年百人”

3.  2016年北京市“科技新星”

主持主要科研项目:

1.  国家自然科学基金青年基金(2015-2017)

2.  北京市教委资助项目(2016-2018)

3.  北京市科技新星项目(2016-2018)

主要发表文章:

C.Wang, X.Ke, J.Wang, R.Liang, Z.Luo, Y.Tian, D.Yi, Q.Zhang, J.Wang, X.Han, G.Van Tendeloo, L.Chen, C.Nan, R.Ramesh, and J.Zhang, Ferroelastic switching in a layered-perovskite thin film, Nature Communications, (2016) 7:10636.

Y.Xia, X.Zhong, X.Ke*; Three-dimensional quantification of low-coordinate surface atom density: bridging catalytic activity to concave facets of nanocatalysts in fuel cells, Small, (2016) accepted.

X.Ke*, C.Bittencourt, G.Van Tendeloo, Possibilities and limitations of advanced transmission electron microscopy for carbon-based nanomaterials, Beilstein J. Nanotechnol., 6 (2015) 1541-1557.

Y. Yan, Z-M. Liao, X. Ke, G. Van Tendeloo, Q. Wang, D. Sun, W. Yao, S. Zhou, L. Zhang, H. Wu, D. Yu, Topological surface state enhanced photothermoelectric effect in Bi2Se3 nanoribbons, Nano Letters 14 (2014) 4389-4394.

X. Ke*, S. Turner, M. Quintana, C. Hadad, A. Montellano-Lopez, M. Carraro, A. Sartorel, M. Bonchio, M. Prato, C. Bittencourt and G. Van Tendeloo, Dynamic motion of Ru-polyoxometalate ions on functionalized few-layer graphene, Small, 9 (2013), 3922-3927.

J. Zhang*, X. Ke*, G. Gou, J. Seidel, B. Xiang, P. Yu, A. M. Minor, Y. Chu, G. Van Tendeloo, X. Ren and R. Ramesh, A Nanoscale Shape Memory Oxide, Nature Communcations, (2013)4:2768.

P. Guttmann, C. Bittencourt, S. Rehbein, P. Umek, X. Ke, G. Van Tendeloo, C. P. Ewels and G. SchneiderNanoscale spectroscopy with polarized X-rays by NEXAFS-TXM, Nature Photonics, 6 (2012) 25-29.

X. Ke*, S. Bals, D. Cott, T. Hantschel, H. Bender and G. Van Tendeloo, Three-dimensional analysis of carbon nanotube networks in interconnects by electron tomography without missing wedge artifacts, Microscopy and Microanalysis, 16 (2010) 210-217.

X. Ke*, S. Bals, A. Romo-Negreira, T. Hantschel, H. Bender and G. Van Tendeloo, TEM sample preparation by FIB for carbon nanotube interconnects, Ultramicroscopyy, 109 (2009) 1353-1359

请参考Research ID主页。

http://www.researcherid.com/rid/A-2723-2013

 

联系方式:邮箱kexiaoxing@bjut.edu.cn


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